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大阪大学

手法 サービス名 試料 用途・目的
波長可変OPOパルスレー ザー/ナノ・マイクロ秒時 間分解分光測定システム ※下記詳細有り
レーザー誘起蛍光分光法
(Laser-InducedFluorescenceSpectroscopy: LIFS)
LIFS測定による気体・液体・固体サンプルやプラズマの成分分析 液体
固体
蛍光波長による組成分析,蛍光量による濃度変化,特定波長の蛍光寿命測 定,特定粒子の時空間分布
レーザー誘起燐光分光法
(Laser-Induced Phosphorescence Spectroscopy: LIPS)
LIPS測定による気体・液体・固体サンプルの成分や燐光寿命の分析 液体
固体
組成分析,特定波長の燐光寿命測定, 液体サンプルの凍結による寿命変化
レーザー誘起ブレークダウン分光法
(Laser-Induced Breakdown Spectroscopy: LIBS)
LIBS測定による気体・液体・固体サンプルの成分分析 固体
液体
気体
組成分析,深さ方向の組成の変化
パルスレーザー堆積法
(Pulsed Laser Deposition: PLD)
PLD法を用いた成膜困難な試料の平坦な成膜やナノ粒生成 固体 成膜困難な材料の成膜,ナノ粒子の生成
レーザー誘起過渡吸収法
(Laser-Induced Transient Absorption Spectroscopy: LITAS)
液体サンプルのLITASによる吸収波長 特定と吸収量の時間変化分析 液体 パルス照射後の吸収波長の特定や吸収量の時間変化
パルスレーザーラマン分光法
(Pulsed Laser Raman Spectroscopy: PLRS)
気体サンプルの純回転ラマン・振動ラマンスペクトルの計測による回転・振 動温度の評価 気体 ラマン活性気体分子の振動ラマンスペクトル,回転ラマンスペクトルの測定と回転振動温度評価
マルチターン飛行時間型2 次イオン質量分析装置  ※下記詳細有り
レーザーポストイオン化2次中性粒子質量分析法 高感度TOF-SIMSによる固体表面の成 分分析 固体 試料表面のμmスケールの領域における組成(原子・分子・同位体)分析
時間分解共鳴ラマン分光 システム
超高感度ラマン分光測定 共鳴ラマンスペクトル測定によるタンパク質試料の構造解析・同定 液体
タンパク質試料の分子構造解析・同定
フェムト秒Dual NOPA/OPAシステム
フェムト秒過渡吸収測定 フェムト秒〜ピコ秒の超高速過渡吸収 分光測定
主に液体(粉末,固 体は試料による)
短寿命過渡種の測定,光反応ダイナミクスの追跡
ピコ秒蛍光寿命測定 ピコ秒〜ナノ秒の発光寿命測定 主に液体(粉末,固 体は試料による)
蛍光寿命の決定
顕微分光測定(スペクトル) 単一分子・単一粒子の発光スペクトル 計測
少数分子・粒子
共焦点イメージの取得・発光スペクト ルの取得
顕微分光測定(発光寿命) 単一分子・単一粒子のピコ秒蛍光寿命 測定
少数分子・粒子
共焦点イメージの取得,一分子発光ダイナミクスの追跡

大阪市立大学

手法 サービス名 試料 用途・目的 備考
(測定上の注意点など)
ナノ秒パルスレーザー/XバンドESR分光器   ※下記詳細有り
ナノ秒パルスレーザー励起時間分解 ESR/EPR測定 サ ブ マ イ ク ロ 〜 マ イ ク ロ 秒 のESR/EPR測定

個体
液体

短寿命の光誘起常磁性種(ラジカルイオン対、励起三重項種、励起多重 項種)の観測と同定、光反応ダイナミクスの追跡
温度可変範囲:3K 〜 室温
・専用の試料管準備と試料管への試料の封入は各自でお願いします(応相談)
試料は内径3.4mmの試料管に封入可の大きさであることが必要です。
・誘電率の高い試料は大きさ(体積)をさら に小さくする必要があります(要相談)
・液体は凍結状態でのみ観測できる場合が多いです。
マルチバンド(X、Q、 Wバンド)ESR分光器
マルチバンドESR/EPR測定 マイクロ波周波数帯域9.5〜94 GHzを用いたESR/EPR測定 固体
液体
気体
低分子・高分子ラジカル、金属錯 体、スピンラベル化生体分子の電子 構造や分子構造の解析
温度可変範囲:3K 〜 室温
・専用の試料管準備と試料管への試料の封入は各自でお願いします。(応相談)
・試料は内径3.4mmの試料管に封入可の大きさであることが必要です。
・誘電率の高い試料は大きさ(体積)をさら に小さくする必要があります。(要相談)
・液体は凍結状態でのみ観測できる場合が多いです。

奈良工業高等専門学校

手法 サービス名 試料 用途・目的
X線光電子分光分析装置
XPS/UPS XPS-UPS同一試料測定 平板上が望ましい 測定チャンバーにX線源および紫外光源を備えていることから、光電子分光法(XPS: X-ray Photoelectron Spectroscopy)により、内殻準位から励起される光電子を測定し、数ナノメートル程度の極表面における化学状態の分析などの測定が可能であるとともに、紫外光電子分光法 (UPS: Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy)により価電子帯近傍の電子状態を詳細に測定でき、仕事関数やイオン化ポテンシャルを同一試料について評価することができる。
走査型プローブ顕微鏡
SPM 光照射AFM観察 平板状  AFMのピエゾスキャナー背面から光照射しながらAFM観察を行うことができる。同装置は基本的なコンタクトモードやタッピングモードはもちろんのこと、STMや電流プローブの オプションも備えていることから自由度の高い観察および分析が可能である。

 

阪奈機器共用
ネットワーク

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