■元素組成分析(SIMS)


〇SIMS
自主 マルチターン飛行時間型2次イオン質量分析装置  SIIナノテクノロジー社  SMI3050MT (大阪大学)

■分光分析(XPS・FT-IR・ラマン分光)


XPS
依頼 X線光電子分光装置  島津製作所 XPS/ESCA-3400(大阪市立大学)

自主 依頼 X線光電子分光装置 ESCA 3057特型装置(XPS-UPS)  アルバック・ファイ ESCA 3057
 (奈良工業高等専門学校)

〇FT-IR
依頼 フーリエ変換赤外分光光度計(赤外顕微鏡付)  日本分光  FT/IR 6100 (大阪大学)
依頼 レーザーラマン分光計  日本分光  NR-1800 (大阪大学)

〇ラマン分光
依頼 顕微ラマン分光装置  日本分光 NRS-3100T (大阪大学)
依頼 時間分解共鳴ラマン分光システム  HORIBA Jobin Yvon iHR550 (大阪大学)

 

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