■元素組成分析（SIMS)

〇SIMS
・自主　マルチターン飛行時間型2次イオン質量分析装置　　SIIナノテクノロジー社　 SMI3050MT （大阪大学）

■分光分析（XPS・FT-IR・ラマン分光）

〇XPS
・依頼　X線光電子分光装置　　島津製作所　XPS/ESCA-3400（大阪市立大学）
・自主　依頼　X線光電子分光装置 ESCA 3057特型装置(XPS-UPS)　　アルバック・ファイ　ESCA 3057
　（奈良工業高等専門学校）

〇FT-IR
・依頼　フーリエ変換赤外分光光度計(赤外顕微鏡付)　　日本分光　 FT/IR 6100　（大阪大学）
・依頼　レーザーラマン分光計　　日本分光 　NR-1800　（大阪大学）

〇ラマン分光
・依頼　顕微ラマン分光装置　　日本分光　NRS-3100T　（大阪大学）
・依頼　時間分解共鳴ラマン分光システム　　HORIBA Jobin Yvon　iHR550　（大阪大学）