■元素組成分析(CHN元素分析・SIMS・ICP・蛍光X線分析)


〇CHN元素分析
依頼 有機微量元素分析装置(CHN)   YANACO  CHNコーダーMT-6(大阪大学)
依頼 有機微量元素分析装置(CHN)   YANACO  CHNコーダー MT-5(大阪大学)
依頼 有機微量元素分析装置(CHNS/O)   アムコ EA1108 CHNS-O(大阪市立大学)
依頼 有機微量元素分析装置(CHN)  ジェイ・サイエンス MICROCORDER JM10(大阪市立大学)

〇ICP (ICP-AES、ICP-OES、ICP-MS)
依頼 ICP-AES(高周波プラズマ発光分析装置)  島津製作所  ICPS-8100(大阪大学)
依頼 ICP発光分光分析装置  Perkin  Elmer  Optima 8300(大阪大学)
自主 依頼 ICP発光分析装置  SHIMADZU ICPS-8100(奈良工業高等専門学校)

〇SIMS
依頼 マルチターン飛行時間型2次イオン質量分析装置  SIIナノテクノロジー社  SMI3050MT (大阪大学)

〇蛍光X線分析(XRF、SEM-EDS、EPMA)
依頼 真空仕様共焦点3次元蛍光X線分析装置  共焦点微小部蛍光X線分析装置 (真空仕様)(大阪市立大学)
依頼 大気仕様共焦点3次元蛍光X線分析装置  共焦点微小部蛍光X線分析装置(大気仕様)(大阪市立大学)
依頼 大型試料対応共焦点3次元蛍光X線分析装置  共焦点微小部蛍光X線分析装置(大型試料対応)
 (大阪市立大学)

依頼 全反射蛍光X線分析装置  株式会社リガク ナノハンター(大阪市立大学)
依頼 X線分析顕微鏡  堀場製作所 XGT-2700(大阪市立大学)
自主 依頼 電界放出形走査電子顕微鏡  JEOL JSM-7800(奈良工業高等専門学校)

自主 依頼 走査電子顕微鏡  JEOL JSM-IT100(奈良工業高等専門学校)
依頼 EDS元素分析システム搭載電界放出形走査電子顕微鏡  JEOL  JSM-7600F(大阪大学)
自主 元素分析装置(EDS)搭載電界放射走査電子顕微鏡システム  JEOL  JSM-F100(大阪大学) 
 
  〇EPMA
依頼 電子プローブマイクロアナライザー  JEOL  JXA-8800R(大阪大学)

■精密質量分析(ESI・ESI、DART・MALDI・EI・CI、FAB・EI、CI、FAB、FD、ESI、APCI・FAB)


〇ESI
依頼 フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴型質量分析計 (ESI) UPLC装備    Bruker  APEX IV-HR 
 (大阪大学)

依頼 タンデム四重極-飛行時間型質量分析計 (ESI) HPLC装備  Bruker micrOTOF-QIII compact (大阪大学)
依頼 タンデム四重極-飛行時間型質量分析計 (ESI)   Bruker Daltonics micrOTOF-QII(大阪大学)
依頼 飛行時間型質量分析計 (ESI) UHPLC装備  JEOL JMS-T100LP(大阪大学)

〇ESI、DART
依頼 リニアイオントラップ-Orbitrap型質量分析計 (ESI・DART) nano-UPLC装備  
 Thermo  Fisher  Scientific  Orbitrap XL(大阪大学) 
自主 依頼 ESI/DART/CSI-TOF質量分析装置   JEOL JMS-T100LP AccuTOF LC(大阪市立大学)

〇MALDI
依頼 タンデム飛行時間型質量分析計 (MALDI)  JEOL  JMS-S3000(大阪大学)
依頼 タンデム飛行時間型質量分析計 (MALDI)  Bruker  Daltonics ultraflex Ⅲ(大阪大学)
依頼 タンデム飛行時間型質量分析計 (MALDI)  島津/KRATOS AXIMA-PERFORMANCE(大阪大学)
自主    飛行時間型質量分析計 (MALDI)   Bruker Daltonics autoflex Ⅲ smartbeam (大阪大学)
依頼 飛行時間型質量分析計 (MALDI)  島津製作所 AXIMA-CFR(大阪大学)

〇EI、CI、FAB
依頼 セクター型質量分析計(EI、CI、FAB) JEOL JMS-700(s) (大阪市立大学)

〇EI、Cl、FAB、FD、ESI、APCl
依頼 クター型質量分析計 (EI・CI・FAB・FD・ESI・APCI) GC, Direct Probe装備  JEOL  JMS-700
 (大阪大学)

〇FAB
自主 セクター型質量分析装置 JEOL JMS-700(大阪大学)

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