■元素組成分析（CHN元素分析・SIMS・ICP・蛍光X線分析）
〇CHN元素分析
・依頼 有機微量元素分析装置（CHN） YANACO CHNコーダーMT-6（大阪大学）
・依頼 有機微量元素分析装置（CHN） YANACO CHNコーダー MT-5（大阪大学）
・依頼 有機微量元素分析装置（CHNS/O） アムコ EA1108 CHNS-O（大阪市立大学）
・依頼 有機微量元素分析装置（CHN） ジェイ・サイエンス MICROCORDER JM10（大阪市立大学）
〇ICP （ICP-AES、ICP-OES、ICP-MS)
・依頼 ICP-AES（高周波プラズマ発光分析装置） 島津製作所 ICPS-8100（大阪大学）
・依頼 ICP発光分光分析装置 Perkin Elmer Optima 8300（大阪大学）
・自主 依頼 ICP発光分析装置 SHIMADZU ICPS-8100（奈良工業高等専門学校)
〇SIMS
・依頼 マルチターン飛行時間型2次イオン質量分析装置 SIIナノテクノロジー社 SMI3050MT （大阪大学）
〇蛍光X線分析（XRF、SEM-EDS、EPMA）
・依頼 真空仕様共焦点３次元蛍光X線分析装置 共焦点微小部蛍光X線分析装置 （真空仕様）（大阪市立大学）
・依頼 大気仕様共焦点３次元蛍光X線分析装置 共焦点微小部蛍光X線分析装置（大気仕様）（大阪市立大学）
・依頼 大型試料対応共焦点３次元蛍光X線分析装置 共焦点微小部蛍光X線分析装置（大型試料対応）
（大阪市立大学）
・依頼 全反射蛍光X線分析装置 株式会社リガク ナノハンター（大阪市立大学）
・依頼 X線分析顕微鏡 堀場製作所 XGT-2700（大阪市立大学）
・自主 依頼 電界放出形走査電子顕微鏡 JEOL JSM-7800（奈良工業高等専門学校）
・自主 依頼 走査電子顕微鏡 JEOL JSM-IT100（奈良工業高等専門学校）
・依頼 EDS元素分析システム搭載電界放出形走査電子顕微鏡 JEOL JSM-7600F（大阪大学）
・自主 元素分析装置(EDS)搭載電界放射走査電子顕微鏡システム JEOL JSM-F100（大阪大学）
〇EPMA
・依頼 電子プローブマイクロアナライザー JEOL JXA-8800R（大阪大学）
■精密質量分析（ESI・ESI、DART・MALDI・EI・CI、FAB・EI、CI、FAB、FD、ESI、APCI・FAB)
〇ESI
・依頼 フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴型質量分析計 (ESI) UPLC装備 Bruker APEX IV-HR
（大阪大学）
・依頼 タンデム四重極－飛行時間型質量分析計 (ESI) HPLC装備 Bruker micrOTOF-QIII compact （大阪大学）
・依頼 タンデム四重極－飛行時間型質量分析計 (ESI) Bruker Daltonics micrOTOF-QII（大阪大学）
・依頼 飛行時間型質量分析計 (ESI) UHPLC装備 JEOL JMS-T100LP（大阪大学）
〇ESI、DART
・依頼 リニアイオントラップ-Orbitrap型質量分析計 (ESI・DART) nano-UPLC装備
Thermo Fisher Scientific Orbitrap XL（大阪大学）
・自主 依頼 ESI/DART/CSI-TOF質量分析装置 JEOL JMS-T100LP AccuTOF LC（大阪市立大学）
〇MALDI
・依頼 タンデム飛行時間型質量分析計 (MALDI) JEOL JMS-S3000（大阪大学）
・依頼 タンデム飛行時間型質量分析計 (MALDI) Bruker Daltonics ultraflex Ⅲ（大阪大学）
・依頼 タンデム飛行時間型質量分析計 (MALDI) 島津／KRATOS AXIMA-PERFORMANCE（大阪大学）
・自主 飛行時間型質量分析計 (MALDI) Bruker Daltonics autoflex Ⅲ smartbeam （大阪大学）
・依頼 飛行時間型質量分析計 (MALDI) 島津製作所 AXIMA-CFR（大阪大学）
〇EI、CI、FAB
・依頼 セクター型質量分析計(EI、CI、FAB) JEOL JMS-700(s) （大阪市立大学）
〇EI、Cl、FAB、FD、ESI、APCl
・依頼 セクター型質量分析計 (EI・CI・FAB・FD・ESI・APCI) GC, Direct Probe装備 JEOL JMS-700
（大阪大学）
〇FAB
・自主 セクター型質量分析装置 JEOL JMS-700（大阪大学）